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HCWS DA2200SI-OPEN
2024-11-15
PLP Load Port 視覺檢測系統 1
PLP Load Port 視覺檢測系統
2026-02-13
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翹曲度量測架構 1
翹曲度量測架構 2
翹曲度量測架構 3

翹曲度量測架構

英文 : Height Measurement Wafer Warpage

服務範圍 :

Inspection Customization Spare Parts
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適用範圍:

  1. 4”6”8”12”Wafer
  2. 310*310 PLP
分類: Hung Ching Wafer Sorter
  • 描述
詳細介紹:

利用各波長之光程高度資訊，表面對焦後分析計算相關之光學對焦高度，軟體將其對焦訊號透過傅立葉轉換 (FFT) 轉換為高度資訊︒

PRODUCT INTRODUCTION

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